鹽霧試驗驗證的標準是檢查接觸電阻的可靠性，而不是檢查外觀。這些連接器通常與密封圈一起使用，以提高耐鹽霧性能。
IEC 60068-2-11:1981 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法試驗 Ka:鹽霧試驗方法》
GB/T 2423.17-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法試驗 Ka:鹽霧試驗方法》
IEC 60068-2-52:2017 《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Kb:鹽霧， 交變（氯化鈉）溶液》
GB/T 2423.18-2012 《環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Kb:鹽霧，交變（氯化鈉）溶液》
鹽霧環(huán)境主要用于軍隊、特種車輛和海洋應用設(shè)備。一般情況下，鹽霧試驗是在5%鹽溶液的鹽霧試驗箱中進行的，其暴露時間為48-96小時。
鹽霧對許多材料都有很強的腐蝕性，并且已被證實會導致許多連接器的鍍層系統(tǒng)失效，包括貴金屬和非貴金屬鍍層。如果用鹽霧測試，原本適用于應用環(huán)境的連接器會在測試中失效。鹽霧試驗的目的是評估產(chǎn)品的性能，而不是損壞產(chǎn)品。鹽霧試驗適用于海洋環(huán)境的連接器。鹽霧試驗的屬性多是外觀檢測、重量檢測以及電阻測量。
對于車輛（如車廂）保護區(qū)域，無需在此類環(huán)境下進行鹽霧測試。在這些應用中，對于貴金屬鍍層的應用，常見的失效機制是孔腐蝕和腐蝕蠕變，它們是通過MFG（HCl, SO2，H2S等混和氣體流）測試來評估的。對于非貴金屬鍍層的接觸界面，主要的失效機制是微動腐蝕，其是通過振動和高頻次的溫濕度循環(huán)測試來評估的。
許多企業(yè)使用鹽霧進行連接器端子鍍錫制品來料檢驗，并對其外觀進行監(jiān)測。
所檢測的連接器在使用時可能根本無法接觸鹽環(huán)境或海洋環(huán)境，而且這些產(chǎn)品很可能是安裝在受保護環(huán)境中，在這種環(huán)境下使用鹽霧測試并不能表明其與實際應用的一致性。
鍍錫產(chǎn)品本身表面就有一層氧化膜，而其主要的失效機制是配合后的微動腐蝕，在這種情況下用鹽霧試驗與其失效機制沒有任何關(guān)聯(lián)。就算經(jīng)過鹽霧試驗后，表面的氧化層變黑，在實際使用時，對配的端子仍然可以輕松推掉這層氧化膜并與里面的純錫接觸形成金屬性連接。
鹽霧試驗沒有加速因子，過了48小時的鹽霧并不代表這個產(chǎn)品在某種情況下可以使用多少年。
連接器鹽霧測試費用一般是按測試時長收取，即每小時多少錢。測試時間長則單價可以給予一定的優(yōu)惠，測試時間短會有基本收費，即開機費。具體報價建議聯(lián)系深圳環(huán)測威檢測銷售工程師進行詳細了解。