產(chǎn)品做靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試可找誰辦理？我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)可以辦理。靜電放電抗擾度試驗(yàn)最新標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)充有電荷的物體靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電）。無處不在的影響著電子產(chǎn)品，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平。才能保證電子的安全使用。需要做GB/T17626標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試歡迎來電聯(lián)系我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)進(jìn)行辦理。
電子靜電抗擾度測(cè)試根據(jù)ISO10605 GB/T19951-2005執(zhí)行一般常說的靜電放電測(cè)試是指IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。靜電放電的實(shí)驗(yàn)主要模擬的人體帶電直接接觸被試物品，所進(jìn)行的放電。
靜電放電的起因有多種，但GB/T17626.2-2006主要描述在低濕度情況下，通過摩擦等因素，使人體積累了電荷。當(dāng)帶有電荷的人與設(shè)備接觸時(shí)，就可能產(chǎn)生靜電放電。試驗(yàn)單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬：
（1）操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電。
（2）人或物體對(duì)鄰近物體的放電。
（1）直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。
（2）放電所引起的電場(chǎng)與磁場(chǎng)變化，造成設(shè)備的誤動(dòng)作。
直接放電（直接對(duì)設(shè)備的放電）：接觸放電為首選形式；只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層，計(jì)算機(jī)鍵盤縫隙等情況）才改用氣隙放電。
間接放電：水平耦合，垂直耦合
注：圖中省略的Cd是存在于發(fā)生器與受試設(shè)備，接地參考平面以及偶合板之間的分布電容，由于此電容分布在整個(gè)發(fā)生器上，因此，在該回路中不可能標(biāo)明。
有型式試驗(yàn)（在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行）及安裝現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)兩種，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定以前者為主。 試驗(yàn)中一般以1次/秒的速率進(jìn)行放電，以便讓設(shè)備對(duì)試驗(yàn)未來得及響應(yīng)另外正式試驗(yàn)前要用20次/秒的放電速率，對(duì)被試設(shè)備表面很快掃視一遍，目的找出設(shè)備對(duì)靜電放電敏感的部位。試驗(yàn)電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。靜電放電用在平時(shí)可以用觸摸到的點(diǎn)上。試驗(yàn)采用：
1）單次放電。
2）在選定點(diǎn)與地之間進(jìn)行放電。
3）每個(gè)點(diǎn)上至少放電10次（正或負(fù)極性）。
4）相鄰兩次放電之間至少間隔1秒在選擇放電點(diǎn)的時(shí)候，則用每秒20次的放電速度進(jìn)行，著力于尋找可能靜電放電敏感的點(diǎn)。 對(duì)于鄰近物體間的放電，可通過對(duì)接地板和試品附近（相距250px）的金屬板（1250px×1250px）放電來模擬。
實(shí)驗(yàn)室的地面應(yīng)設(shè)置接地參考平面，它應(yīng)是一種最小厚度為0.25mm的銅或鋁的金屬薄板，其他金屬材料雖可使用它們至少有0.65mm的厚度。接地參考面的最小尺寸1m，實(shí)際的尺寸取決于受試設(shè)備的尺寸，而且每邊至少應(yīng)伸出受試設(shè)備或耦合板之外0.5m，并將它與保護(hù)接地系統(tǒng)相連。受試設(shè)備與實(shí)驗(yàn)室墻壁和其他金屬性結(jié)構(gòu)之間的距離最小1m。
規(guī)定有耦合板的地方，例如允許采用間接放電的地方，這些耦合板采用和接地參考面相同的金屬和厚度，而且每斷帶有一個(gè)470kΩ電阻的電纜與接地參考平面連接，當(dāng)電纜置于接地參考平面上時(shí)，這些電阻器應(yīng)耐受住放電電壓且具有良好的絕緣，以避免對(duì)接地參考平面的短路，也可以防止靜電電荷的積累。
氣候條件：在空氣放電試驗(yàn)的情況下，氣候條件應(yīng)在下述范圍內(nèi)：
環(huán)境溫度：15°c～35°c 相對(duì)濕度：30%～60% 大氣壓力：86kPa～106kPa
試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降級(jí)進(jìn)行分類。相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或試驗(yàn)的需求方確定，或由產(chǎn)品的制造商和購買雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類：
a）在制造商、委托方或購買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常
b）功能或性能暫時(shí)喪失或降低，但在騷擾停止后能自行恢復(fù)，不需要操作者干預(yù)；
c）功能或性能暫時(shí)喪失或降低，但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù)；
d）因設(shè)備硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。
由制造商提出的技術(shù)規(guī)范可以規(guī)定對(duì)受試設(shè)備產(chǎn)生的某些影響是不重要的，因而這些影響是可接受的。在沒有適用的通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，這種分類可以由負(fù)責(zé)相應(yīng)產(chǎn)品通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)制定用于作為明確性能判據(jù)的指南，或作為制造商和購買方雙方協(xié)商的性能判據(jù)的框架。