如上所述，現(xiàn)代基站被細(xì)分為兩個(gè)主要部分，REC或BBU以及RE或RRU/RRH。
圖6.傳統(tǒng)和現(xiàn)代基站的比較
RRH由基站RF單元，濾波器，模數(shù)轉(zhuǎn)換器，數(shù)模轉(zhuǎn)換器和上/下變換器組成。RRH與基站其余部分（BBU）之間的連接主要通過光纖鏈路實(shí)現(xiàn)。
通信，即控制和管理，同步和I/Q數(shù)據(jù)的傳輸，基于CPRI協(xié)議。因此，設(shè)計(jì)用于測試RRH的測試系統(tǒng)必須同時(shí)支持RF和CPRI接口，以完全表征DUT。
使用CPRI測試網(wǎng)絡(luò)組件
完整的RRH測試和評估需要發(fā)射機(jī)（Tx）和接收機(jī)（Rx）測試，Tx測試分析RRH的傳輸路徑，也稱為下行鏈路（DL）。在測試DL部分時(shí)，測試系統(tǒng)必須向RRH發(fā)送數(shù)字CPRI信號并測量從RRH獲取的RF信號?；蛘?，Rx測試結(jié)果提供關(guān)于RRH的上行鏈路（UL）接收器行為的信息。這里，測試系統(tǒng)必須向RFRRH產(chǎn)生RF信號，并且數(shù)字CPRI接口從RRH讀取信息。圖7顯示了DL和UL中的接口和信號方向。
圖7.DL和UL中的接口和信號方向的RRH
ETSI或3GPP
驗(yàn)證和驗(yàn)證（V＆V）或生產(chǎn)中的測試通常按照相應(yīng)的ETSI或3GPP規(guī)范進(jìn)行。以下規(guī)范涵蓋了不同的主要無線電標(biāo)準(zhǔn)。
LTE：ETSITS136.141/3GPP36.141
WCDMA：ETSITS125.141/3GPP25.141
GSM：ETSITS151.021/3GPP51.021
這些規(guī)范涵蓋Tx（DL）和Rx（UL）特性，包括信號生成和分析以及性能測試。
例如，下面列出了與生產(chǎn)線測試結(jié)束相關(guān)的LTETx和Rx測試用例。
發(fā)射機(jī)（Tx）測試：
信號生成（CPRI）
用于校準(zhǔn)和/或驗(yàn)證的E-UTRA測試模型（E-TM）1.1,1.2,2,3.1,3.2,3.3
數(shù)據(jù)分析（RF）
基站輸出功率
發(fā)送ON/OFF電源（PvT，僅適用于E-UTRATDDBS）
頻率誤差（平均載波頻率偏移）
誤差矢量幅度（EVM）
占用帶寬（OBW）
相鄰信道泄漏功率比（ACLR）
工作頻帶無用發(fā)射
RSTX功率
接收器（Rx）測試：
信號生成（RF）
UL固定參考信號根據(jù)FRCA1-3
信號分析（CPRI）
參考靈敏度水平
測試挑戰(zhàn)
實(shí)際上，許多工程師將RRHDL和UL測試分成兩個(gè)測試站，因?yàn)榇蠖鄶?shù)測試供應(yīng)商都沒有提供完整的測試系統(tǒng)。在測試設(shè)置選擇的情況下，基站供應(yīng)商特定的修改和IP保護(hù)思想也可以發(fā)揮作用。因此，許多工程師使用自建或定制的CPRI收發(fā)器。由于這些定制的CPRI收發(fā)器不易自動化并且通常缺乏同步功能，因此圍繞它們設(shè)計(jì)完整的測試系統(tǒng)可能是一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。此外，大批量制造應(yīng)用中對堅(jiān)固性和堅(jiān)固性的要求通常推動了儀器級CPRI接口的要求。
CPRI測試設(shè)備必須必須處理以下與硬件和軟件相關(guān)的挑戰(zhàn)。
光學(xué)SFP+收發(fā)器形式的物理接口（多個(gè)用于多DUT測試）
通過CPRI發(fā)送和接收數(shù)字基帶數(shù)據(jù)
以高達(dá)10Gb/s或更高的速率流式傳輸和處理數(shù)據(jù)
主從配置
根據(jù)規(guī)范和供應(yīng)商特定的功能進(jìn)行映射和解映射
時(shí)鐘生成和恢復(fù)
處理控制和管理數(shù)據(jù)，包括各個(gè)供應(yīng)商信息
處理不同的供應(yīng)商風(fēng)味
測試RRH模塊時(shí)的第二個(gè)挑戰(zhàn)是DUT控制。理想情況下，它應(yīng)該在測試系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)，通過CPRI（CPRI上的以太網(wǎng)）為DUT控制數(shù)據(jù)提供至少一個(gè)透明通道?？紤]到可用的測試系統(tǒng)，這不是理所當(dāng)然的。
圖8顯示了一個(gè)常見的測試設(shè)置，分別用于DL或UL以及RF或CPRI信號生成和分析的分離控制和測量設(shè)備。通常，CPRI接口模塊和控制PC完全獨(dú)立，只有RF分析儀是標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)置的一部分。由于DUT控制不被視為標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)置的一部分，因此通常希望工程師自己處理此問題。
圖8.來自不同供應(yīng)商和外部DUT控制的不同測試盒的測試設(shè)置
理想的RRH測試平臺必須具有足夠的靈活性，可擴(kuò)展性和可擴(kuò)展性，以支持DL和UL測試。此外，它必須包括同步RF和CPRI信號生成或采集以及幾種類型RRH的DUT控制功能。請注意，無論測試系統(tǒng)是在驗(yàn)證/驗(yàn)證應(yīng)用程序中還是在大批量生產(chǎn)測試中使用，這些要求都適用。
NI解決方案采用開放靈活的PXI方法滿足這些要求，PXI測試系統(tǒng)包括PXI機(jī)箱和控制器。此外，他們還可以將RF儀器和儀器級CPRI接口模塊組合到一個(gè)系統(tǒng)中。該系統(tǒng)可滿足RRH表征，驗(yàn)證/驗(yàn)證甚至大批量制造測試的所有要求。圖9顯示了NI的緊湊型RRH測試平臺，該平臺具有嵌入式控制器，RF和CPRI收發(fā)器模塊以及集成DUT控制。
