只需7個(gè)步驟即可完成電磁兼容性EMC傳導(dǎo)排放測(cè)試

      您可以執(zhí)行兩種EMC預(yù)兼容性測(cè)試 - 輻射和傳導(dǎo)，今天，我們將審查進(jìn)行的排放測(cè)試 - 它是什么以及它為什么重要。有關(guān)輻射測(cè)試的類似討論，請(qǐng)查看EMC基礎(chǔ)知識(shí)：什么是輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)試？

      傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試側(cè)重于被測(cè)設(shè)備（DUT）產(chǎn)生的交流電源上的無(wú)用信號(hào)，傳導(dǎo)的RF發(fā)射是由DUT中的電活動(dòng)引起的電磁干擾（噪聲電壓和電流），并且沿著其互連電纜從DUT傳導(dǎo)出來(lái) - 例如，電源，信號(hào)或數(shù)據(jù)電纜。傳導(dǎo)的干擾，特別是導(dǎo)體，可以直接耦合到同一設(shè)備內(nèi)的另一電子設(shè)備或組件中。

      這將提供可能導(dǎo)致問(wèn)題的不需要的信號(hào)，例如不準(zhǔn)確的性能，此類測(cè)試是EMC預(yù)合規(guī)過(guò)程中執(zhí)行的第一組測(cè)試之一，其次是輻射發(fā)射測(cè)試，輻射抗擾度和傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試。

在我們完成傳導(dǎo)排放測(cè)試過(guò)程的步驟之前，讓我們收集所需的設(shè)備，這些是測(cè)試平臺(tái)應(yīng)具備的常見(jiàn)項(xiàng)目 - 包括：
1.頻譜  分析儀配備EMC預(yù)兼容測(cè)量軟件
2.線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN） - LISN很重要，因?yàn)樗鼘㈦娫磁cDUT隔離，DUT必須具有盡可能干凈的信號(hào)
3.極限值
4.測(cè)試人員

現(xiàn)在讓我們分七個(gè)步驟完成傳導(dǎo)排放測(cè)試過(guò)程：

1.設(shè)置你的測(cè)試
      將信號(hào)分析儀連接到限制器，LISN和DUT，確保DUT和LISN之間的電線盡可能短，以避免電源線變成天線。在DUT關(guān)閉的情況下測(cè)量電源線上的信號(hào)，如果您看到信號(hào)接近建立的限制線，您將需要設(shè)置一些額外的屏蔽，以便這些信號(hào)不會(huì)干擾您的DUT可能的傳導(dǎo)發(fā)射，屏蔽將組件彼此隔離，以避免不需要的耦合和干擾。

2.選擇您的頻率范圍
      確保您在150 kHz和30 MHz范圍內(nèi)測(cè)量，這是此測(cè)量的正確帶寬。這是符合CISPR要求的相應(yīng)頻率跨度，CISPR要求是用于一致性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)。我們將在另一篇博客中詳細(xì)討論CISPR。

3.加載限制線和修正系數(shù)
       用于傳導(dǎo)發(fā)射的兩條限制線是EN5502 A類準(zhǔn)峰值和EN55022 A類EMI平均值，要補(bǔ)償測(cè)量誤差，請(qǐng)為每個(gè)限制線添加邊距。

圖1：掃描表，您可以在其中選擇相應(yīng)測(cè)量所需的頻率跨度。

圖2：帶有限制線和邊距設(shè)置的傳導(dǎo)發(fā)射顯示

4.糾正LISN和瞬態(tài)限制器
      瞬態(tài)限制器用于保護(hù)輸入混頻器，基本上用作濾波器或衰減器，并與LISN一起使用，LISN和瞬態(tài)限制器的校正因子存儲(chǔ)在信號(hào)分析儀中，可以輕松調(diào)用。校正因子調(diào)整DUT的參考平面，以補(bǔ)償通過(guò)電纜，空間等造成的任何損失，現(xiàn)在，您可以查看環(huán)境輻射。在此步驟中，必須關(guān)閉DUT，如果您的排放超過(guò)限制，可能需要縮短LISN和DUT之間的電源線。

      EMC測(cè)試中的大多數(shù)輻射和傳導(dǎo)限制都基于準(zhǔn)峰值檢測(cè)模式，準(zhǔn)峰值檢測(cè)器根據(jù)其重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，這通過(guò)使充電速率快于放電速率來(lái)完成。隨著重復(fù)率的增加，準(zhǔn)峰值檢測(cè)器沒(méi)有足夠的時(shí)間完全放電，導(dǎo)致更高的電壓輸出。

      需要測(cè)量信號(hào)的準(zhǔn)峰值和平均值，并與它們各自的極限進(jìn)行比較，有三個(gè)探測(cè)器 - 探測(cè)器1將設(shè)置為峰值，探測(cè)器2設(shè)置為準(zhǔn)峰值，探測(cè)器3設(shè)置為EMI平均值。

 
圖3：加載校正因子文件

5.找到限制線以上的信號(hào)
      打開(kāi)DUT以查找限制線以上的信號(hào)，現(xiàn)在是檢查以確保信號(hào)分析儀的輸入沒(méi)有過(guò)載的好時(shí)機(jī)，方法是將輸入衰減器踩到值并查看它們的顯示電平是否沒(méi)有變化。

圖4：掃描并搜索限制線以上的信號(hào)

6.測(cè)量信號(hào)的準(zhǔn)峰值和平均值 
      EMC測(cè)試中的大多數(shù)輻射和傳導(dǎo)限制都基于準(zhǔn)峰值檢測(cè)模式，該模式可在EMC X應(yīng)用程序中使用，準(zhǔn)峰值檢測(cè)器根據(jù)其重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，這通過(guò)使充電速率快于放電速率來(lái)完成。隨著重復(fù)率的增加，準(zhǔn)峰值檢測(cè)器沒(méi)有足夠的時(shí)間完全放電，導(dǎo)致更高的電壓輸出。 

      需要測(cè)量信號(hào)的準(zhǔn)峰值和平均值，并與它們各自的極限進(jìn)行比較。有三個(gè)探測(cè)器 - 探測(cè)器1將設(shè)置為峰值，探測(cè)器2設(shè)置為準(zhǔn)峰值，探測(cè)器3設(shè)置為EMI平均值。 

      差不多了！我們還有一步要走！

 7.查看測(cè)量結(jié)果 

      準(zhǔn)峰值檢測(cè)器增量到限制線1和平均檢測(cè)器增量到限制線2都應(yīng)該具有負(fù)值，如果有一些測(cè)量值是正的，則DUT的傳導(dǎo)發(fā)射存在問(wèn)題，在使用這些結(jié)果重新設(shè)計(jì)/排除DUT之前，檢查以確保在存在排放問(wèn)題時(shí)正確接地。

圖5：準(zhǔn)峰值和平均增量限制 - 測(cè)量結(jié)果

檢查這些提示是否有任何疑難解答問(wèn)題： 
1.如果您正在查看的信號(hào)處于傳導(dǎo)頻段的較低頻率范圍（2MHz或更低），您可以降低停止頻率以進(jìn)一步查看
2.您可以通過(guò)更改掃描表來(lái)添加更多數(shù)據(jù)點(diǎn)
3.默認(rèn)掃描表是每個(gè)帶寬兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，或每點(diǎn)4.5 kHz

要獲得更多數(shù)據(jù)點(diǎn)，請(qǐng)將每個(gè)帶寬的點(diǎn)數(shù)更改為2.25或1.125，以便為每個(gè)帶寬提供四個(gè)或八個(gè)點(diǎn)。