由于需要將EMC合規(guī)性測(cè)試作為公認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)建立，因此任何今天設(shè)計(jì)和制造的新產(chǎn)品都需要進(jìn)行合規(guī)性測(cè)試，以確保它們符合要求的標(biāo)準(zhǔn)。幾年前，在建立EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)并且電子設(shè)備的性能不符合相同標(biāo)準(zhǔn)之前，不同的設(shè)備會(huì)相互干擾。它們的電磁干擾或EMI性能很差，隨著家庭，辦公室和企業(yè)中電子設(shè)備數(shù)量的增加，人們看到了提高設(shè)備EMI性能和建立EMC標(biāo)準(zhǔn)的需求。隨著標(biāo)準(zhǔn)的出現(xiàn)，需要證明設(shè)備的一致性。
EMC一致性測(cè)試設(shè)計(jì)
任何設(shè)計(jì)過程的階段是設(shè)計(jì)產(chǎn)品，以滿足EMC一致性測(cè)試要求和所進(jìn)行的任何EMC測(cè)試，為了改善EMI性能，必須確保有足夠的濾波來防止發(fā)生不需要的輻射，或者允許不需要的信號(hào)。通過在進(jìn)入設(shè)備的任何線路或電纜中放置足夠的過濾器，可以實(shí)現(xiàn)大部分功能。還必須確保裝置得到充分篩選。在設(shè)備內(nèi)，任何信號(hào)源或易受輻射影響的區(qū)域都應(yīng)與進(jìn)入設(shè)備的任何電纜隔離，并且設(shè)備應(yīng)良好接地。
如果在設(shè)計(jì)過程中觀察到這些和其他預(yù)防措施，那么該單元或設(shè)備將更有可能滿足并通過可能進(jìn)行的任何EMC / EMI一致性測(cè)試。
EMI EMC測(cè)試階段：
為了使產(chǎn)品符合EMC要求，EMC測(cè)試應(yīng)在產(chǎn)品生命周期的不同階段進(jìn)行。測(cè)試的確切性質(zhì)以及是否需要進(jìn)行將取決于具體情況，產(chǎn)品需求以及產(chǎn)品引入的性質(zhì)。例如，如果正在購買產(chǎn)品，則在開發(fā)期間不需要進(jìn)行測(cè)試。
從廣義上講，EMC測(cè)試可能涉及四個(gè)階段：
1.開發(fā)測(cè)試
2.預(yù)先符合性測(cè)試
3.EMC一致性測(cè)試
4.生產(chǎn)測(cè)試
能夠?qū)MC測(cè)試的不同階段進(jìn)行分類是有用的，因?yàn)槊總€(gè)階段的要求略有不同，并且可以采用不同的方法。
1.開發(fā)EMC測(cè)試
在項(xiàng)目的開發(fā)階段，更容易更改電子電路設(shè)計(jì)。通過這種方式，可以進(jìn)行測(cè)試以確保獲得佳的EMC / EMI性能。在此階段，EMC濾波器，電路布局，屏蔽和設(shè)計(jì)的其他方面都可以更容易地進(jìn)行更改，在這個(gè)階段的EMC測(cè)試可能是非正式的，盡管進(jìn)行了EMI測(cè)試，但是對(duì)于后來的正式測(cè)試階段，不需要相同級(jí)別的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試。
2.預(yù)先符合性EMC測(cè)試
一旦獲得終設(shè)備的代表性工作模型，就會(huì)進(jìn)行符合性EMC測(cè)試。測(cè)試通常在開發(fā)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行，作為其產(chǎn)品測(cè)試計(jì)劃的一部分。其主要目的是檢查整個(gè)產(chǎn)品的性能，并確保它很有可能通過以后需要執(zhí)行的正式EMI測(cè)試。
3.EMC一致性測(cè)試
一旦產(chǎn)品開發(fā)完成，就必須進(jìn)行完整且正式的EMI EMC一致性測(cè)試，這將確保產(chǎn)品滿足其所需的標(biāo)準(zhǔn)的所有要求。需要進(jìn)行的測(cè)試及其性質(zhì)取決于產(chǎn)品，但需要足以確保產(chǎn)品符合其EMI EMC標(biāo)準(zhǔn)，通?？梢栽趦?nèi)部進(jìn)行許多測(cè)試，但也可能需要進(jìn)行專門的測(cè)試才能使用眾多外部EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)中的一個(gè)。關(guān)于測(cè)試位置的決定將取決于許多因素，包括預(yù)算，所需資源的可用性以及特定產(chǎn)品需要滿足的標(biāo)準(zhǔn)。
4.生產(chǎn)測(cè)試
雖然主要的EMC / EMI測(cè)試可以銷售產(chǎn)品，但制造商有義務(wù)確保產(chǎn)品繼續(xù)滿足其規(guī)定的性能。發(fā)現(xiàn)在任何生產(chǎn)過程中，隨著所提供的組件變化，將會(huì)有小的變化。這可能會(huì)影響EMC測(cè)試/ EMI測(cè)試性能，因此制造商有義務(wù)執(zhí)行某些測(cè)試。通常，這些測(cè)試的綜合性會(huì)相當(dāng)?shù)?，并且只需要批量測(cè)試，以確保性能沒有重大變化。
EMC測(cè)試類型：
EMI EMC合規(guī)性所需的測(cè)試分為多個(gè)類別。EMC測(cè)試的一些要素是必不可少的，而其他要素可能適合在產(chǎn)品開發(fā)周期的各個(gè)階段執(zhí)行。
1.進(jìn)行排放
2.輻射發(fā)射
3.傳導(dǎo)免疫力
4.輻射免疫
5.ESD抗擾度
6.瞬態(tài)免疫力
7.浪涌免疫力
不同類型的EMC測(cè)試需要不同的測(cè)試技術(shù)，它們都為任何電子設(shè)備測(cè)試必要的電磁兼容性，EMC相關(guān)元件，傳導(dǎo)和輻射發(fā)射和抗擾度與設(shè)備不能發(fā)射或易受射頻能量影響的能力有關(guān)，無論是攜帶和輻射信號(hào)，還是通過進(jìn)入設(shè)備的引線傳導(dǎo)，ESD性能是另一個(gè)重要參數(shù)。靜電是日常生活的一部分，必須確保靜電放電不易損壞，此外，設(shè)備必須能夠抵抗進(jìn)入設(shè)備的任何線路上出現(xiàn)的任何瞬變或浪涌。例如，主電源通常受到浪涌和瞬態(tài)脈沖的影響，
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