本測(cè)試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平渴、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來決定）。
參照標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
跌落試驗(yàn)概念：
跌落試驗(yàn)的原理--將包裝件按規(guī)定高度跌落于堅(jiān)硬、平整的水平面上，評(píng)定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對(duì)內(nèi)裝物保護(hù)能力的試驗(yàn)。跌落試驗(yàn)，又名drop test。用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的跌落等。
（1）非包裝狀態(tài)產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受的自由跌落，樣品通常按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上。
（2）模擬負(fù)載電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。
（3）包裝跌落
對(duì)于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品（如手機(jī)，MP3等）大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對(duì)于≤2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品（如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落災(zāi)數(shù)、跌落方向。
針對(duì)跌落實(shí)驗(yàn)國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。
分90cm、76cm、65cm幾個(gè)等級(jí)：
包裝貨物重量（lbs）/（㎏） 落下高度（inches）/（㎝）
1~20.99 lbs（0.45~9.54㎏） 30 in /（76.20㎝）
21~40.99 lbs（9.55~18.63㎏） 24 in /（60.96㎝）
41~60.99 lbs（18.64~27.72 ㎏） 18 in /（45.72㎝）
61~100 lbs（27.73~45.45㎏） 12 in /（30.48㎝）
