射頻識別RFID測試報告有哪些測試項目標準?環(huán)測威小編來告訴你。射頻識別(RFID)技術是20世紀90年代開始興起的一種非接觸的自動識別技術,它是利用射頻信號和空間耦合或雷達反射的傳輸特性,實現(xiàn)對被識別物體的自動識別。與傳統(tǒng)的磁卡、IC卡相比,該技術的最大優(yōu)點在于遠間隔和非接觸識別,因此完成識別工作時無須人工干預,適合于實現(xiàn)系統(tǒng)的自動化且不易損壞,可識別高速運動物體,操縱快捷方便。需要做可靠性RFID測試報告歡迎來電4008-707-283聯(lián)系我司環(huán)測威檢測進行辦理。
1.短距離無線通訊設備(SRD)、藍芽,WLAN(802.11a/b/g/n)和基地臺
2.中繼器、CDMA2000、GSM、WCDMA和LTE手機
3.專用移動無線電(PMR)、海上設備(DSC/ATIS/AIS)、搜索和救援信標(包括EPIRBs、ELTs、PLBs)
4.DECT/CAT-iq手機模塊、手機與基地臺
由于世界上存在大量RF應用,因此產品和系統(tǒng)必須能夠在其電磁環(huán)境中運行,并且不得將難以忍受的電磁干擾引入環(huán)境中。因此,在產品或系統(tǒng)進入市場之前,必須對其進行RF抗擾度和輻射測試。對于RF抗擾度測試,設備暴露于RF干擾和具有場強和頻率范圍的場,代表其工作環(huán)境。另一方面,當測試一件設備的RF發(fā)射時,在正常操作下,設備將監(jiān)測RF干擾和場。
1、電磁兼容抗干擾試驗
靜電放電抗擾度試驗:接觸放電±15kV,空氣放電±15kV,放電次數(shù)正負極性各10次。
工頻磁場試驗:測試端口外殼端口,磁場強度1000A/m,測試方向X,Y,Z三個軸向。
脈沖磁場試驗:測試端口外殼端口,磁場強度1000A/m,試驗次數(shù)正負極性各10次,測試方向X,Y,Z三個軸向。
射頻電磁場輻射試驗:試驗等級3級,測試頻率80MHz-1000MHz,試驗場強10V/m。
阻尼振蕩磁場試驗:試驗等級5級,磁場強度100A/m。
2、環(huán)境適應性試驗
低溫試驗:-40℃,穩(wěn)定2小時,試驗后讀取數(shù)據(jù)。
低溫貯存試驗:-50℃,貯存16h,試驗后讀取數(shù)據(jù)。
高溫試驗:+75℃,溫度2小時,試驗后讀取數(shù)據(jù)。
高溫貯存試驗:+85℃,溫度2小時,試驗后讀取數(shù)據(jù)。
溫度循環(huán)試驗:-40℃~+85℃,高低溫各保持3小時,溫度變化速率1oct/min,循環(huán)5次。
恒定濕熱試驗:溫度+85℃,濕度95%,貯存48小時,恢復到常溫保持2小時,讀取樣品數(shù)據(jù)。
鹽霧試驗:溫度35℃,5%NACL溶液,連續(xù)噴霧48小時,試驗后,外殼涂層不應出現(xiàn)銹蝕現(xiàn)象。
振動試驗:10Hz-150Hz,加速度10m/s2,每方向振動1小時。
機械沖擊試驗:沖擊波形半正弦波,加速度147m/s2,脈沖寬度11ms,試驗后應能讀取樣品數(shù)據(jù)。
3、防塵防水試驗
IPX8防水試驗:水深2米,試驗1小時,開蓋檢查,殼體內部沒有進水。
IP6X防塵試驗:抽負壓,沙塵箱中試驗8小時,開蓋檢查,殼體內部沒有進塵。
一般市場用戶在進行RFID電子標簽采購時,均要求提供國家認可的第三方權威檢測機構出具的有效檢測報告。
1、設置發(fā)射機為非調制的載波持續(xù)發(fā)射,正確接入頻率計;
2、記錄各種條件,包含極限條件的頻率值;
3、調節(jié)供電電源電壓,從極限低壓繼續(xù)往下調,直到0,中間記錄發(fā)射頻率的狀況;
4、記錄停止發(fā)射時的工作電壓節(jié)點。