EMC靜電測(cè)試辦理標(biāo)準(zhǔn)方式有哪些？可以聯(lián)系我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)了解詳情。靜電測(cè)試，又叫靜電抗干擾測(cè)試，有時(shí)候又簡(jiǎn)稱為ESD。是EMC檢測(cè)中非常重要的一個(gè)步驟。需要做EMC靜電測(cè)試歡迎來(lái)電4008-707-283聯(lián)系我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)進(jìn)行辦理。
靜電放電（Electrostatic discharge）：具有不同靜電電位之物體在相互靠近或直接接觸引起之電荷轉(zhuǎn)移現(xiàn)象。靜電放電（ESD）的模型以及工業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，因ESD產(chǎn)生的原因及其放電的方式不同，ESD目前大體上被分為下列四類：
1、人體放電模型 （Human-Body Model, HBM）
2、機(jī)器放電模型 （Machine Model, MM）
3、元件充電模型 （Charged-Device Model, CDM）
4、電場(chǎng)感應(yīng)模型 （Field-Induced Model, FIM）
IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)設(shè)立之目的主要建立共通的和可重現(xiàn)性之基準(zhǔn)
用來(lái)評(píng)核電力和電子設(shè)備在遭受靜電放電后呈現(xiàn)之性能否符合法規(guī)之規(guī)范除上之外，它還包括從人體接近被害設(shè)備物體間之發(fā)生之靜電放電。
靜電測(cè)試歐洲法規(guī)：EN61000-4-2
靜電測(cè)試中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)：GB17626.2
靜電測(cè)試國(guó)際法規(guī)：IEC61000-4-2
以上法規(guī)僅僅規(guī)定了靜電測(cè)試的測(cè)試方法。
如果一個(gè)產(chǎn)品要確定測(cè)試靜電項(xiàng)目的測(cè)試等級(jí)，需要在產(chǎn)品類別法規(guī)中體現(xiàn)。
如果一個(gè)信息技術(shù)產(chǎn)品，在EN55024中規(guī)定了交流供電產(chǎn)品測(cè)試的靜電測(cè)的測(cè)試等級(jí)為
接觸放到位+/-4KV,空氣放電為+/-8KV
1、人體放電模型 （Human-Body Model, HBM） :
人體放電模型（HBM）的ESD是指因人體在地上走動(dòng)摩擦或其他因素在人體上已累積了靜電，當(dāng)此人去碰觸到IC
時(shí)，人體上的靜電便會(huì)經(jīng)由IC的腳（pin）而進(jìn)入IC內(nèi)，再經(jīng)由IC放電到地去，
2、機(jī)器放電模型 （Machine Model, MM）
機(jī)器放電模型的ESD是指機(jī)器（例如機(jī)械手臂）本身累積了靜電，當(dāng)此機(jī)器去碰觸到IC時(shí)，該靜電便經(jīng)由IC的pin放電。此機(jī)器放電模式的工業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為 EIAJ-IC-121 method20。
3、元件充電模型 （Charged-Device Model, CDM）
此放電模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC內(nèi)部累積了靜電，但在靜電累積的過(guò)程中IC并未被損傷。此帶有靜電的IC在處理過(guò)程中，當(dāng)其pin去碰觸到接地面時(shí)，IC內(nèi)部的靜電便會(huì)經(jīng)由pin自IC內(nèi)部流出來(lái)，而造成了放電的現(xiàn)象。
4、電場(chǎng)感應(yīng)下面（Field-Induced Model, FIM）
此FIM模型的靜電放電發(fā)生是因電場(chǎng)感應(yīng)而起的，當(dāng)IC因輸送帶或其他因素而經(jīng)過(guò)一電場(chǎng)時(shí)，其相對(duì)極性的電荷可能會(huì)自一些IC腳而排放掉，等IC通過(guò)電場(chǎng)之后，IC本身便累積了靜電荷，此靜電荷會(huì)以類似CDM的模式放電出來(lái)。
