P管道變得越來(lái)越復(fù)雜，有一個(gè)或多個(gè)CPU、多個(gè)電壓調(diào)節(jié)器、無(wú)線電系統(tǒng)、內(nèi)部和外部通信鏈路、傳感器和用戶界面。如果免疫測(cè)試對(duì)人體內(nèi)部有任何影響，如果是的話，影響多少，那么從外部判斷就變得越來(lái)越難了。電壓調(diào)節(jié)器可以漂移值，兩個(gè)CPU之間的通信可能被中斷，傳感器讀數(shù)可能被抵消。
其中一件或多件事可能發(fā)生，除非測(cè)試是為了顯示效果，否則你可能永遠(yuǎn)也不會(huì)知道。測(cè)試可能會(huì)抵消傳感器，但是，除非實(shí)際傳感器輸出加上偏移量到達(dá)系統(tǒng)將其注冊(cè)為超出界限錯(cuò)誤的點(diǎn)，或者它以其他方式影響操作，否則在測(cè)試期間您可能不知道。
然而，在現(xiàn)場(chǎng)，除了測(cè)試中使用的值之外，一個(gè)活動(dòng)傳感器可能會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)關(guān)閉，或者更糟糕的是，會(huì)引起危險(xiǎn)的反應(yīng)。如果電壓調(diào)節(jié)器在測(cè)試過(guò)程中偏離規(guī)格，系統(tǒng)可能會(huì)正常運(yùn)行，但在實(shí)際使用中，不同溫度下的不同單元可能無(wú)法可靠運(yùn)行。我們生產(chǎn)的產(chǎn)品越復(fù)雜，我們?cè)跍y(cè)試中需要的細(xì)節(jié)就越多。
在iec 61000-4-3下的大多數(shù)抗輻射測(cè)試中，被測(cè)設(shè)備(Eut)被放置在一個(gè)小室中，射頻(RF)信號(hào)從天線、放大器和信號(hào)發(fā)生器發(fā)送。信號(hào)發(fā)生器由計(jì)算機(jī)控制，計(jì)算機(jī)設(shè)置頻率，將信號(hào)提升到所需的級(jí)別，暫停指定的駐留時(shí)間，然后向下傾斜，將頻率增加到下一步，并重復(fù)該序列。
關(guān)于輻射免疫測(cè)試，IEC 61000-4-3指出：
“每一頻率的停留時(shí)間應(yīng)不少于行使緊急情況并能夠作出反應(yīng)所需的時(shí)間?！?br />
太多的測(cè)試只是停留在每一個(gè)頻率上幾秒鐘，除非我們知道每個(gè)內(nèi)部過(guò)程何時(shí)開(kāi)始和結(jié)束，否則我們?nèi)绾沃老到y(tǒng)的每個(gè)部分是否有時(shí)間在每一步進(jìn)行響應(yīng)？如果一個(gè)擾動(dòng)不足以在測(cè)試條件下引起一些外部可見(jiàn)的反應(yīng)，我們?nèi)绾沃朗欠裼袛_動(dòng)？
圖1：開(kāi)環(huán)免疫
閉環(huán)免疫
幸運(yùn)的是，我們可以做一些事情來(lái)改進(jìn)這個(gè)測(cè)試。IEC 61000-4-3還指出：
“應(yīng)設(shè)法在試驗(yàn)期間充分行使人體免疫功能，并詢問(wèn)為免疫試驗(yàn)選擇的所有關(guān)鍵鍛煉方式。建議采用特別的鍛煉方案?！?br />
如果我們更改測(cè)試設(shè)置，如圖2所示，并且在eut中有允許外部系統(tǒng)命令單個(gè)函數(shù)的測(cè)試并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行答復(fù)的軟件，則可以進(jìn)行徹底的測(cè)試并將其記錄在案。
圖2：備用輻射免疫測(cè)試裝置
EUT監(jiān)視器是一臺(tái)位于測(cè)試室外的計(jì)算機(jī)，它可以從EUT命令測(cè)試，并接收和記錄測(cè)試結(jié)果。它和eut之間的接口將取決于eut的設(shè)計(jì)。如果現(xiàn)有的有線或無(wú)線接口已經(jīng)是EUT的一部分，則可以將其用作通信鏈路，其使用可以作為測(cè)試的一部分。
如果沒(méi)有現(xiàn)有的通信接口，那么簡(jiǎn)單的光纖鏈路是最好的，因?yàn)樗粫?huì)通過(guò)增加導(dǎo)體來(lái)改變測(cè)試設(shè)置。如果這是不可能的，可以使用有線鏈路，但在其設(shè)計(jì)時(shí)必須小心，以確保它的存在不會(huì)改變測(cè)試。
測(cè)試命令的設(shè)計(jì)完全取決于EUT設(shè)計(jì)人員。它可以簡(jiǎn)單到只記錄一個(gè)測(cè)試，也可以是一個(gè)完整的系統(tǒng)測(cè)試套件。而且，隨著時(shí)間的推移，它甚至可以被改變以實(shí)現(xiàn)項(xiàng)目所需要的東西。在eut中執(zhí)行的測(cè)試命令應(yīng)該設(shè)計(jì)成與在產(chǎn)品代碼中的功能完全一樣，因此產(chǎn)品中使用的任何篩選或錯(cuò)誤檢查也在測(cè)試代碼中，并且沒(méi)有在產(chǎn)品代碼中使用的任何篩選或錯(cuò)誤檢查都不會(huì)在測(cè)試代碼中使用。
這樣，測(cè)試將準(zhǔn)確地顯示實(shí)際產(chǎn)品在測(cè)試期間的響應(yīng)情況。然而，為了更好地理解rf的影響，附加的測(cè)試命令可以允許讀取原始數(shù)據(jù)來(lái)了解rf引起的干擾的程度。
ENT監(jiān)視器與測(cè)試控制計(jì)算機(jī)之間的接口是一個(gè)簡(jiǎn)單的3線RS-232鏈路，運(yùn)行于9600波特。這在兩臺(tái)計(jì)算機(jī)之間使用了一個(gè)簡(jiǎn)單的基于ASCII的協(xié)議.測(cè)試控制計(jì)算機(jī)設(shè)置測(cè)試頻率，提高射頻功率。
當(dāng)電源上升和水平時(shí)，它會(huì)向EUT監(jiān)視器發(fā)送一個(gè)字符串“Frequencyxx.xxMHz就緒”。然后，EUT監(jiān)視器記錄這個(gè)頻率，執(zhí)行任何需要的測(cè)試，并記錄測(cè)試結(jié)果，然后將一條消息發(fā)送回測(cè)試控制計(jì)算機(jī)“Frequencyxx.xxMHz Complete”。然后測(cè)試控制計(jì)算機(jī)降低RF，切換到下一個(gè)頻率，提升RF，并將下一個(gè)“FrequencyxxxMhzReady”消息發(fā)送到eut監(jiān)視器。
這個(gè)周期一直持續(xù)到最后一個(gè)測(cè)試頻率完成。結(jié)果是記錄在EUT監(jiān)視器中的完整測(cè)試數(shù)據(jù)集，每個(gè)測(cè)試周期都標(biāo)識(shí)為該周期中使用的頻率。
在設(shè)計(jì)eut監(jiān)視器和eut之間的鏈接時(shí)，應(yīng)該了解到eut可能并不總是表現(xiàn)良好。應(yīng)該在eut監(jiān)視器中內(nèi)置超時(shí)，這樣，如果eut沒(méi)有在合理的時(shí)間內(nèi)響應(yīng)，那么所用的時(shí)間就會(huì)被記錄下來(lái)，并且測(cè)試不會(huì)掛起。如果在eut監(jiān)視器和eut之間有銅連接，則應(yīng)保護(hù)eut監(jiān)視器，以確保從腔外進(jìn)行的任何RF不干擾eut監(jiān)視器的操作。
RS-232是一個(gè)很好的選擇，因?yàn)樗?jiǎn)單，良好的支持和理解，并且不需要傳遞大量的數(shù)據(jù)，因此是歐洲在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)與測(cè)試控制計(jì)算機(jī)接口的一個(gè)很好的選擇。只有兩個(gè)短的、簡(jiǎn)單的ASCII字符串，所以速度和能力不是問(wèn)題。
可以說(shuō)，產(chǎn)品的完整測(cè)試必須只使用生產(chǎn)產(chǎn)品代碼。對(duì)于每個(gè)產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，這可能是真的，也可能不是。如果設(shè)計(jì)者認(rèn)為這很重要，那么除了這個(gè)測(cè)試方法之外，還可以使用產(chǎn)品代碼來(lái)運(yùn)行測(cè)試。這取決于產(chǎn)品設(shè)計(jì)者的選擇。
還可能是，在只使用產(chǎn)品代碼的測(cè)試過(guò)程中，或者一旦產(chǎn)品進(jìn)入該領(lǐng)域，就會(huì)發(fā)現(xiàn)一些故障。在這種情況下，這種測(cè)試方法可以用來(lái)診斷故障，更全面地理解故障，并測(cè)試校正以確保不會(huì)失敗。
調(diào)試功能
在對(duì)EUT進(jìn)行了測(cè)試并發(fā)現(xiàn)了一些問(wèn)題之后，EUT監(jiān)視器可以使用一些附加命令(參見(jiàn)表1)來(lái)控制其他測(cè)試，并更好地理解以前發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。
| 來(lái)自EUT監(jiān)視器 | 測(cè)控計(jì)算機(jī)響應(yīng) | 功能 |
| 設(shè)置頻率xx.xxMHz | 頻率xx.xxMHz就緒 | 由EUT監(jiān)視器用于設(shè)置特定的測(cè)試頻率。當(dāng)測(cè)試控制計(jì)算機(jī)設(shè)置了頻率時(shí)，電源就會(huì)上升，并使其回復(fù)。 |
| 射頻關(guān)斷 | 射頻關(guān)斷 | 用于在測(cè)試期間關(guān)閉RF電源，以完成某些功能不能在RF打開(kāi)時(shí)完成，或者在關(guān)閉RF時(shí)看到EUT功能的變化。 |
其他測(cè)試
到目前為止，在這篇文章中，我只討論了在iec 61000-4-3下使用這種方法進(jìn)行輻射免疫測(cè)試，但是這種方法可以用于任何類型的步進(jìn)頻率測(cè)試。這可能包括進(jìn)行免疫測(cè)試，帶材線，三板，大電流注入，DPI或其他.任何涉及計(jì)算機(jī)的測(cè)試，在測(cè)試EUT的免疫力的同時(shí)，增加信號(hào)發(fā)生器的頻率，都可以從這種方法中受益。與其對(duì)每個(gè)頻率使用固定的駐留時(shí)間，不如使用上面所述的EUT監(jiān)視器和測(cè)試控制計(jì)算機(jī)之間的相同接口來(lái)控制每個(gè)頻率的時(shí)間，并允許記錄測(cè)試結(jié)果的頻率。
這并不直接適用于電子快速傳輸(EFT)或靜電放電(ESD)測(cè)試，但一些概念可以用來(lái)創(chuàng)造一個(gè)更穩(wěn)健的測(cè)試。對(duì)于ESD測(cè)試，沒(méi)有測(cè)試控制計(jì)算機(jī)，但假設(shè)產(chǎn)品上有三點(diǎn)可以接收排放。在測(cè)試開(kāi)始記錄基線之前，可以運(yùn)行EUT監(jiān)視器測(cè)試序列，可以在A點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試序列可以標(biāo)記為A到B的結(jié)果運(yùn)行，然后在B點(diǎn)進(jìn)行放電，然后再執(zhí)行EUT監(jiān)測(cè)測(cè)試序列和標(biāo)記為B到C的結(jié)果。最后一組在C點(diǎn)排放后收集的數(shù)據(jù)。
結(jié)語(yǔ)
在上面描述的EUT監(jiān)視器和測(cè)試控制計(jì)算機(jī)之間添加接口，可以進(jìn)行更深入和完整的測(cè)試，并且可以在完成測(cè)試的過(guò)程中記錄測(cè)試。但是，為了使這種方法在商業(yè)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中可用，這些接口需要包含在iec 61000-4-3和其他標(biāo)準(zhǔn)中。如果它們不在標(biāo)準(zhǔn)中，那么每個(gè)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中的實(shí)現(xiàn)可能是不同的，因此難以或不可能實(shí)現(xiàn)或使用。
這并不是建議強(qiáng)制進(jìn)行這種測(cè)試，應(yīng)該在測(cè)試控制計(jì)算機(jī)的軟件中進(jìn)行切換，以允許使用當(dāng)前的駐留時(shí)間方法或在兩臺(tái)計(jì)算機(jī)之間添加握手的方法。然后，可以用任何一種方式進(jìn)行測(cè)試。
這也不要求由EUT監(jiān)視器控制的測(cè)試類型或深度，這將由EUT的設(shè)計(jì)人員定義，以滿足他們的需要。他們可以自由定義所需的任何測(cè)試，如何測(cè)試以及測(cè)試的深度或完整性。對(duì)iec 61000-4-3的更改只需要記錄EUT監(jiān)視器和測(cè)試控制計(jì)算機(jī)之間的標(biāo)準(zhǔn)接口和協(xié)議，以控制和監(jiān)視頻率變化。
